Читаем, обсуждаем, задаем вопросы
27 Сен
Компания Vishay Intertechnology представила первое семейство 30-вольтовых силовых N-канальных MOSFET-транзисторов, выполненных по вертикальной технологии нового поколения TrenchFET® Gen IV. Использование новой структуры кристалла с высокой плотностью компоновки ячеек обеспечивает SiRA00DP, SiRA02DP, SiRA04DP и SiSA04DN лучший в отрасли показатель сопротивления открытого канала: не более 1.35 мОм при напряжении на затворе 4.5 В, а также низкий общий заряд затвора (до 1.8 нКл). Транзисторы доступны в корпусах PowerPAK® SO-8 и 1212-8.
Инновационные решения, использованные при разработке технологии TrenchFET, основываются на множестве патентов, включая фундаментальные технологические патенты, зарегистрированные в начале 1980-х годов.
Каждое новое поколение технологии TrenchFET выводит на рынок продукты, поднимающие планку эксплуатационных характеристик силовых MOSFET-транзисторов, используемых в широком спектре устройств, таких как компьютеры, коммуникационные системы, потребительская электроника и многие другие приложения. Семейство силовых 30 — вольтовых N-канальных MOSFET-транзисторов, выполненных по технологии следующего поколения компании Vishay TrenchFET® Gen IV, сочетает ряд технологических улучшений в структуре кристалла, технологии обработки пластин и упаковки кристаллов в корпуса, обеспечивая разработчиков современных систем силовой электроники рядом преимуществ, являющихся следствием существенного улучшения характеристик транзисторов. Обеспечивая сокращение площади активной области кристалла более чем на 60% по сравнению с предыдущим поколением устройств, четвертое поколение технологии TrenchFET позволяет создавать транзисторы с лучшим в отрасли показателем сопротивления открытого канала, добиваясь снижения энергопотребления и повышения эффективности. Технология TrenchFET® Gen IV предлагает новую структуру кристалла, отличающуюся повышенной плотностью компоновки без существенного увеличения заряда затвора, позволяя преодолеть проблемы структур, построенных с использованием большого количества элементарных ячеек. Представленные транзисторы отличаются малым полным зарядом затвора, и, следовательно, низким произведением сопротивления открытого канала на заряд затвора, что является ключевым показателем качества MOSFET-транзисторов.
Показатель | Обозначение | Наименование | ||||
---|---|---|---|---|---|---|
SiRA00DP | SiRA02DP | SiRA04DP | SiSA00DN | |||
Напряжение сток-исток | VDS (В) | 30 | 30 | 30 | 30 | |
Напряжение затвор-исток | VGS (В) | 20 | 20 | 20 | 20 | |
Сопротивление открытого канала (макс.) |
RDS(ON) (мОм) |
VGS=10 В | 1.00 | 2.00 | 2.15 | 2.15 |
VGS=4.5 В | 1.35 | 2.70 | 3.10 | 3.10 | ||
Полный заряд затвора | QG (нК) | VGS=4.5 В | 66.0 | 34.3 | 22.5 | 22.5 |
Заряд затвор–исток | QGS (нК) | 26.0 | 13.6 | 8.6 | 8.6 | |
Заряд затвор–сток | QGD (нК) | 8.6 | 4.1 | 4.0 | 4.0 | |
Корпус | PowerPAK® SO-8 | PowerPAK® 1212-8 |
Отличительные особенности:
Область применения:
Запросить образцы, средства разработки или техническую поддержку
Документация на SiRA00DP (англ.)
Документация на SiRA02DP (англ.)
Документация на SiRA04DP (англ.)
Документация на SiSA02DN (англ.)
Подпишись на новости! |